安捷倫科技(中國)有限公司
使用 Agilent 5800 ICP-OES 對高純 石英砂中的雜質元素進行檢測
檢測樣品:石英砂
檢測項目:雜質元素
方案概述:本文介紹了一種使用 Agilent 5800 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀 (ICP-OES) 檢測高純 3N和 4N8 石英砂中雜質元素的方法。
前言
高純石英砂是指 SiO 2 含量高于 99.9%(又稱 3N 以上)、雜質元素含量極低的石英粉體。它們一般由高品位的天然石英礦物經過提純技術生產,是石英玻璃和石英坩堝的主要原料;并且被廣泛用于光伏、半導體等行業(yè),是高端制造行業(yè)重要的原輔材料。近年,隨著光伏和半導體領域的快速發(fā)展,整個市場對高純石英需求的快速增長(尤其是純度等級在 4N5–4N8 (SiO 2 = 99.995%–99.998%) 以上的高端產品),國內很多企業(yè)的石英砂項目規(guī)劃相繼提上日程。不同等級的石英砂除了對總雜質含量要求不同外,不同應用對雜質元素,如堿金屬(Li、Na 和 K)含量、過渡金屬含量等也會有具體要求。微量堿金屬對石英制品的熱穩(wěn)定性具有較大的影響;過渡金屬含量會阻止硅熔體導電性;石英坩堝等則
受 B 元素影響較大,要求材料中具有比較低的硼含量;Al 元素以晶格雜質形式存在,含量雖低但去除難度大,是制約高純石英砂最終質量的關鍵之一,且 Li、K、Na 等雜質含量會隨 Al 雜質含量的增加而增加。因此,石英砂及其制品中雜質元素含量的準確定量,是石英砂質量控制及產品品質認定中至關重要的環(huán)節(jié)。目前,行業(yè)內普遍采用電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀和電感耦合等離子質譜儀來檢測不同等級的石英砂、原料以及石英制品中雜質元素的含量[1,2]。
石英砂樣品中含有大量 Si 基體,且高純石英砂樣品中雜質元素含量極低,消解方式如不合適會對部分雜質元素檢測造成一定程度的影響。本文提供了一種使用 Agilent 5800 ICP-OES 測定高純石英砂雜質元素的全流程方法。該方法具有靈敏度高、穩(wěn)定性好等特點,可滿足準確定量分析高含量及低含量雜質元素的要求。
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